For tidlige tegn på avlingsstress, som tørke, kan man få ved å undersøke rotsystemet. Men for å studere røttene riktig, er det oftest nødvendig å skade planten. Amerikanske forskere fra National Laboratory. Lawrence i Berkeley (California) utviklet et spesielt sensorapparat for å studere rotegenskapene til planter, som gjør det mulig å få informasjon om roten uten å skade selve planten.
Vi snakker om en tomografisk elektrisk skanner av rhizosfæren (TERI). Enheten kan samle inn data om egenskapene til røttene (lengde, masse og diameter). Innovative sensorsensorer fungerer ved å sende en liten mengde elektrisk strøm inn i plantens stamme. Sensoren, ved ikke-invasivt å registrere den elektriske responsen til røttene og jorda, gir informasjon om de nødvendige egenskapene til roten.
Så langt er teknologien testet på soyabønner og mais. Kø for poteter. Denne tilnærmingen kan hjelpe forskere med å se på avlingsproduksjon fra et helt nytt perspektiv.